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X射线荧光光谱仪检测
X射线荧光光谱仪(X-ray Fluorescence Spectrometer,简称:XRF光谱仪),是一种快速的、非破坏式的物质测量方法,主要用于确定材料中元素的种类和含量。XRF是用高能量X射线···
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X射线荧光光谱仪(X-ray Fluorescence Spectrometer,简称:XRF光谱仪),是一种快速的、非破坏式的物质测量方法,主要用于确定材料中元素的种类和含量。XRF是用高能量X射线或伽玛射线轰击材料时激发出的次级X射线。被广泛用于元素分析和化学分析,特别是在金属,玻璃,陶瓷和建材的调查和研究,地球化学,法医学,考古学等。

测试结果给出的结果一般是Excel格式。

(1)铝合金为例,单质测试结果如下表所示:

单质名称含量(%)
Al97.2965
Mg1.1897
Si0.6631
Fe0.3688
Cu0.2141
Cr0.1582
Mn0.0614
Zn0.0259
Ga0.0222

 

(2)高岭土为例,氧化物测试结果如下表所示:

氧化物名称含量(%)

SiO2

51.0484

Al2O3

45.4433

TiO2

2.1478

K2O

0.3758

Fe2O3

0.3081

P2O5

0.2297

CaO

0.1737

SrO

0.1047

SO3

0.0942

ZrO2

0.0635

CuO

0.0109

 

样品要求

1. 样品状态:可为粉末、块状、薄膜样品

2. 粉末样品:粉末样品需要至少2 g ,最好3 g以上,样品在测试之前尽量干燥,可以过200目筛的样品无需研磨;含碳元素含量超过10%的样品,请先将样品烧成灰,再测试;

3. 块状、薄膜样品:块状样品尺寸在2.5 ~4.5cm之间,标明测试面(表面光滑平整),块体样品最好平面平整光滑,上下面平行;

4. 粉末样品只能回收剩余的样品;


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